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Voici les éléments 1-1 de 1

Characteristics of noise degradation and recovery in gamma-irradiated SOI nMOSFET with in-situ thermal annealing. .

2022, Amor, Sedki; Kilchytska, Valeriya; Tounsi, Fares; André, Nicolas; Machhout, M.; FRANCIS, Laurent; Flandre, Denis

Article Scientifique