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Parcourir ICHEC-ECAM-ISFSC par auteur "André, Nicolas"
Voici les éléments 1-2 de 2
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Characteristics of noise degradation and recovery in gamma-irradiated SOI nMOSFET with in-situ thermal annealing. .
2022, Amor, Sedki; Kilchytska, Valeriya; Tounsi, Fares; André, Nicolas; Machhout, M.; FRANCIS, Laurent; Flandre, DenisArticle Scientifique -
New Universal Figure of Merit for Embedded Si Piezoresistive Pressure Sensors.
2021, Delhaye, Thibault; André, Nicolas; FRANCIS, Laurent; Flandre, DenisArticle Scientifique