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Parcourir ICHEC-ECAM-ISFSC par auteur "Kilchytska, Valeriya"
Voici les éléments 1-1 de 1
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Characteristics of noise degradation and recovery in gamma-irradiated SOI nMOSFET with in-situ thermal annealing. .
2022, Amor, Sedki; Kilchytska, Valeriya; Tounsi, Fares; André, Nicolas; Machhout, M.; FRANCIS, Laurent; Flandre, DenisArticle Scientifique