| dc.rights.license | CC0 | en_US |
| dc.contributor.author | LECOINTRE, Julien | |
| dc.contributor.author | VAN DROOGENBROEK, M. | |
| dc.date.accessioned | 2020-10-07T19:56:03Z | |
| dc.date.available | 2020-10-07T19:56:03Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.identifier.uri | https://luck.synhera.be/handle/123456789/349 | |
| dc.description.abstract | Le microscope atomique est un type de microscope à sonde locale
permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Le
mode semi contact consiste à faire vibrer une pointe à sa fréquence propre
de résonance avec une certaine amplitude. La rétroaction se fait alors sur
l'amplitude d'oscillation du levier suite à l’interaction de la pointe avec la
surface. Un modèle a été développé, prenant en compte l'impact du film
viscoélastique ultrafin dans le comportement du levier oscillant en mode
semi contact. Sur base de ce modèle, la réaction de la pointe en fonction de
la viscosité et de l'épaisseur du film a été analysée pour obtenir une
topographie de surface. | en_US |
| dc.description.abstracten | Tapping mode atomic force microscopy involves the tapping of a sharp tip
− mounted on a flexible cantilever which vibrates at a frequency close to its
natural frequency − onto a material surface (an ultrathin viscoelastic film).
Using this mode, we can measure the surface topography. The resulting
signal (mainly the phase lag) relates also to mechanical properties of the
probed material. A model reproducing the behaviour of the tip, including
the interactions between the tip and the surface, has been developed in
order to study this resulting signal. The model has been validated by
comparing its response to a similar model. | en_US |
| dc.description.sponsorship | EUR | en_US |
| dc.language.iso | FR | en_US |
| dc.publisher | Instituts Supérieurs Industriels Libres Francophones Belges - ISILF | en_US |
| dc.relation.ispartof | Revue Scientifique des Instituts Supérieurs Industriels Libres Francophones Belges | en_US |
| dc.rights.uri | www.isilf.be | en_US |
| dc.subject | Microscope atomique, film viscoélastique, topographie de surface, modélisation. | en_US |
| dc.subject.en | Force microscopy, viscoelastic ultrathin film, surface topography, modeling. | en_US |
| dc.title | Influence d’un film viscoélastique ultra-mince sur la réponse d’une pointe oscillante : vers un aspect quantitatif du mode semi contact d’un microscope à force atomique | en_US |
| dc.type | Article scientifique | en_US |
| synhera.classification | Ingénierie, informatique & technologie>>Ingénierie mécanique | en_US |
| synhera.institution | HENALLUX | en_US |
| synhera.institution | FoRS | en_US |
| synhera.stakeholders.fund | Erasmus | en_US |
| synhera.cost.total | 0 | en_US |
| synhera.cost.apc | 0 | en_US |
| synhera.cost.comp | 0 | en_US |
| synhera.cost.acccomp | 0 | en_US |
| dc.description.version | Oui | en_US |
| dc.rights.holder | Henallux | en_US |
