• Open Access
    • Comment cela fonctionne?
    • Ouvrir une session
    • Contact

    Voir le document

    JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
    Voir le document 
    • Accueil de LUCK
    • HENALLUX
    • FoRS
    • Sciences Et Techniques
    • Voir le document
    • Accueil de LUCK
    • HENALLUX
    • FoRS
    • Sciences Et Techniques
    • Voir le document
    Voir/Ouvrir
    J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 43 (2010) 185203 (10pp) (422.3Ko)
    Date
    2010
    Auteur
    LECOINTRE, Julien
    Defrance, P.
    Belic, D. S.
    Metadata
    Afficher la notice complète
    Partage ça

    Electron impact multiple ionization of argon ions

    Résumé
    Absolute cross sections for electron impact single and multiple ionization of argon ions leading to the formation of Ar q + (q = 2–8) are reported. The animated crossed beam method is applied in the energy range extending from the respective thresholds up to 2.5 keV. The maximum cross sections for the multiply charged products Ar q + (q = 2–8) are measured to be (12.6 ± 0.6) × 10−17 cm2 for Ar2+, (4.96 ± 0.21) × 10−18 cm2 for Ar3+, (5.50 ± 0.23) × 10−19 cm2 for Ar4+, (8.10 ± 0.33) × 10−20 cm2 for Ar5+, (8.2 ± 0.7) × 10−21 cm2 for Ar6+, (8.9 ± 0.8) × 10−22 cm2 for Ar7+ and (5.5 ± 1.6) × 10−23 cm2 for Ar8+. The corresponding threshold energies are determined to be (27.4 ± 0.5) eV, (68.7 ± 0.5) eV, (135 ± 2) eV, (250 ± 10) eV, (310 ± 10) eV, (480 ± 20) eV and (640 ± 40) eV for the production of Ar q + (q = 2–8), respectively. The direct process is seen to dominate for q = 2–3, while the indirect processes are dominant for charge states 4–8.

    Parcourir

    Tout LUCKCommunautés & CollectionsAuteurTitreDate de publicationSujetType de documentTitre de périodiqueThématiqueCette collectionAuteurTitreDate de publicationSujetType de documentTitre de périodiqueThématique

    Mon compte

    Ouvrir une sessionS'inscrire

    Statistics

    Most Popular ItemsStatistics by CountryMost Popular Authors

    Plan du site

    • Open Access
    • Comment cela fonctionne?
    • Mon compte

    Contact

    • L’équipe de LUCK
    • Synhera
    • CIC