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Interlaboratory comparison of near field test benches

dc.rights.licenseCC0en_US
dc.contributor.authorBROUN, Valery
dc.contributor.authorLabarre, C
dc.contributor.authorAouine, Olivier
dc.contributor.authorBaudry, D
dc.contributor.authorLouis, A
dc.contributor.authorMazari, B
dc.contributor.authorCosta, F
dc.date.accessioned2020-10-01T11:13:03Z
dc.date.available2020-10-01T11:13:03Z
dc.date.issued2007-10
dc.identifier.urihttps://luck.synhera.be/handle/123456789/324
dc.description.abstract2ème IEEE symposium on embedded EMC, Rouen 18-19 Octobre 2007en_US
dc.description.sponsorshipNoneen_US
dc.format.mediumOTHen_US
dc.language.isoENen_US
dc.publisherHEPLen_US
dc.rights.uri0en_US
dc.subjectinterlaboratory comparisonen_US
dc.subjectnear field test benchesen_US
dc.titleInterlaboratory comparison of near field test benchesen_US
dc.typeActe de conférence ou de colloqueen_US
synhera.classificationIngénierie, informatique & technologieen_US
synhera.institutionHE de la Province de Liègeen_US
synhera.institutionCECOTEPEen_US
synhera.otherinstitutionEcole des Mines de Douaien_US
synhera.otherinstitutionIRSEEM St Etienneen_US
synhera.otherinstitutionParis Cachanen_US
dc.description.versionOuien_US
dc.rights.holderValery Brounen_US


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Nom:
34.pdf
Taille:
516.5Ko
Format:
PDF
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